การหาความหนาของฟิล์มด้วยหลักการ Interferometry

ผมอยากทราบหลักการของ Interferometry ในการอ่านค่าของความหนาครับ ยังงงอยู่ว่าเป็นการสะท้อนหรือแทรกสอด หรือมีมากกว่านั้นครับ รบกวนผู้รู้หน่อยคับ ( ใช้อ่านคราบความหนาที่เกิดบนแท่งเหล็กที่เป็น Aluminum นะครับ ใช้ลำแสง 200 - 1000 nm ส่องไปยังแท่งเหล็กที่เกิดคราบ แล้วมีทั้งสะท้อนออกและหักเหเข้าไปในคราบความหนา แล้วก้อสะท้อนออกจากแท่งเหล็ก เข้าไปยังเซ็นเซอร์ สลับไปมาประมาณนี้อะครับ)
แสดงความคิดเห็น
โปรดศึกษาและยอมรับนโยบายข้อมูลส่วนบุคคลก่อนเริ่มใช้งาน อ่านเพิ่มเติมได้ที่นี่